低发射率SiO 2 /Al 2 O 3 纳米复合粉体的制备和红外隐身性能

发布时间：2024-05-22 23:57

　　采用溶胶-凝胶法制备非晶态和结晶态两种相结构的SiO₂/Al₂O₃纳米复合粉体,通过X射线衍射、透射电子显微镜等手段对纳米复合粉体结构和形貌进行表征,并利用傅里叶变换红外光谱仪研究纳米复合粉体的红外隐身性能.结果表明:两种相结构的SiO₂/Al₂O₃纳米复合粉体均呈不规则颗粒状,其中结晶态SiO₂/Al₂O₃纳米复合粉体的平均晶粒尺寸约为18nm;结晶态SiO₂/Al₂O₃纳米复合粉体在2.5²5μm波长范围内的红外发射率均低于非晶态复合粉体,3⁵μm内发射率平均值为45.65%,8¹4μm内发射率平均值为46.19%,是一种低发射率的红外隐身复合纳米材料.

【文章页数】：4 页

【文章目录】：
1 实验材料及方法
    1.1 粉体的制备
    1.2 红外隐身性能测试
2 结果与讨论
    2.1 Si O2/Al2O3纳米复合粉体的相结构
    2.2 Si O2/Al2O3纳米复合粉体的微观形貌
    2.3 Si O2/Al2O3纳米复合粉体的红外隐身性能
3 结论



本文编号：3980715