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原子荧光光谱法测定电子信息产品中铅、镉和六价铬

发布时间:2016-09-24 20:13

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原子荧光光谱法测定电子信息产品中铅、镉和六价铬

探讨了应用原子荧光光谱(AFS)法测定电子信息产品中铅、镉和六价铬的可行性。经研究,该方法精密度和准确度好,检出限低,可使用一种AFS检测仪器即可完成电子信息产品中铅、镉和六价铬的检测。

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栏目编辑:姚蔚利

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电孑信息产品污染控钧

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中国电子技术标准化研究所

邢卫兵

摘要探讨了应用原子荧光光谱(F ̄测定电 AS 子信息产品中铅、镉和六价铬的可行性。经研究,该方 法精密度和准确度好,检出限低,可使用一种 A S F检测

1引言 随着欧盟 R0 HS指令和中国的《子信息产品污染控 电制管理办法》的正式实施,美国、日本等也都开始了相关法案的进程。在各种环保法规的推动下,电子信息产品中有毒有害物质的检测成为一种保证符合性的重要依据和保

仪器即可完成电子信息产品中铅、镉和六价铬的检测。

关键词 AS F法电子信息产品铅、镉和六价铬 测定方法 Abs r t act h ta ̄ i b/ted tr n t n o :T e e bl ’ eemiai f ' i i h o .

障。目前国内所采用的检测技术及其设备大部分都是进口的,如 i CP-AES/ MS、AAS、UV、xRF等,这些设备本身较为昂贵、且运行成本高。同时在以这些设备为基础的电子信息产品中有毒有害物质检测技术上,国外检测机

plmb m, a mim n e a ae h o u i eee to i u u c d u a dh x v lnt r im t lc r nc c n h

构或实验室具有领先地位。在这种情况下,有必要发展具

if r to o u tb sn h t m f u rs e c n o ma in prd c y u ig t ea o o e c n e l s e tu AF J to siv siae i su yn . p cr m( S h dwa n e t td i t s td ig me g nh

有我国自主知识产权的 AFs技术,一方面发展具有我国自 主

知识产权的检测仪器和检测技术, Ro在 HS检测中占有 一

Ac odn oters l矿teep rme tl td ig te c r igt h eut s( h x e i na u yn,h s meh d h sg o pr cso n ( ur c, t loh lw t o a o d e ii na dⅡ a y a t a s a o c d

席之地,借此推动和促进我国检测技术在全球的影响力

和普遍性;一方面,AFS仪器价格低廉,可降低我国中另

小型企业以及检测机构的成本。

d tcinl t, Oo l n ido AK srme t a e ee o i s S nyo ekn t mi f Si iu n nb n c

为此,本研究在国内一些检测机构、仪器厂商的协助 下,对 AFS法测定电子信息产品中的铅、、六价铬,,在镉

u' o p eeted tr n t nt lmb m c d u s o .dt c m lt h eemiai堪p u u a mim e o a d h x v ln h o u nt eee t n ci o ma in n e a ae t rmim i h lc r i f r t c o n o p o u r d c。 t

样品制作

方法检出限、方法准确度、方法精密度等方面

做了探索性研究。

Ke wo d:h o fu r cn ep c u e o; y r s te t l oe ec et mm t d am s s r h teee t nci o mainp o u tpu u c d u n h l r i n r t rd c; lmb m, a mim a d c o f o h x aef ho u e av ln r mi m;ted t r n n to c h ee mi ig me h d

2实验 2 1仪器及其工作条件 . 本研究所使用的仪器见表 1,仪器工作条件见表 2。

2 0第¨期 0 7年

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