新型SPI NOR闪存芯片测试系统的设计

发布时间：2025-05-12 23:19

　　集成电路只有经过测试合格后,才能成为真正的产品进入市场。目前国内外常见的集成电路测试方式有:ATE(自动化测试设备)测试,优点是测试速度快、覆盖率高,探针卡测试,优点是可以节约封装成本,BIST电路测试,优点是对测试仪器依赖性小。但是这些测试方式有一个共同的缺点:费用高昂,从而会提高研发成本。本着降低集成电路测试成本,推广测试仪器小型化的目的,推出了基于FPGA的测试系统。本文针对OCTA NOR Flash芯片设计了一套基于FPGA的芯片测试系统。该系统覆盖待测OCTA NOR Flash芯片的三种接口模式,分别是传统SPI模式(单口输入,单口输出),STR-OPI模式(Single Transfer Rate OPI,单沿8 I/O口传输),DTR-OPI模式(Double Transfer Rate OPI,双沿8 I/O口传输)。测试时钟频率达该芯片最高工作频率,104 MHz。比特率最高达1.664 Gbps(Bit Per Second)。本文针对以下几方面展开:1、讨论了NOR Flash在集成电路中地位重要、国内外测试Flash的方式、存储器基本测试原理,包含存储器各种分...

【文章页数】：74 页

【学位级别】：硕士

【部分图文】：

图1-1芯片测试基本原理图

现代经济与社会发展的基础，不能受制于人，需要掌握片生产的最后一个步骤为芯片的测试，测试会根据芯片项指标是否达到要求。NORFlash是存储信息的一个载体的出现，如汽车电子，NORFlash与人类安全的关系更h的性能不满足标准，出现问题，将会对使用产品的用命安全，使得N....

图2-1存储器功能分类图

存储器的分类存储器也是存储芯片，其电路模型种类丰富，各种电路模型结构截然不同标准与要求来做分类，存储芯片被划分成很多类别。存储芯片按照存储方式不同来分，有“随机存储器”和“顺序存储器。“随机存储器”的存取方式是按随机存取，当读出或者写入存储器，所花费的时间长度与这个数据目前的位置....

图2-2NORFlash存储阵列示意图

图2-2NORFlash存储阵列示意图e上的存储单元之间是并联关系，当选中某一条W择一个单元的操作，实现按位的读操作，也叫随高。也能一个Bit或者一个Byte的编程。存储单以独立寻址，并且读取高效，适合用于存储代码带来一些问题：需要打通孔，走连接线，从而占。并....

图2-3非挥性存储单元基本结构

第二章存储芯片基本测试原理也像一般MOS管一样，有源极，有漏极。它ate，简称Sub）、隧穿氧化层（Tunneloxide）、化层（Controloxide）、控制栅电极（Controlgate存储单元各端分别加上控制栅电极电压、源极变浮栅中电子的数目，这种将电子捕....

本文编号：4045380