不同银引入方式的多级孔分子筛的制备及表征
发布时间:2021-08-14 15:32
选用ZSM-5分子筛为原料,采用水热晶化法,以硅烷类P为软模板剂、四丙基溴化铵为微孔结构导向剂,制备具有微介孔结构的P-ZS多级孔分子筛。进一步通过负载法、银盐或银氨配合物原位合成法等对P-ZS进行改性,制备出一系列银基改性P-ZS多级孔分子筛,并采用XRD、H2-TPR、NH3-TPD、Py-FTIR、氮气等温吸脱附测试等对其结构进行表征。结果显示,银氨原位合成法所得[Ag,Al]P-ZS多级孔分子筛比其他银引入方式所得改性分子筛结构更加稳定;与P-ZS相比,[Ag,Al]PZS比表面积、孔容及孔径等明显减小,但晶型和骨架结构未发生改变;[Ag,Al]P-ZS产生了强Lewis酸,酸性位点数量多,整体酸量明显增加。
【文章来源】:现代化工. 2020,40(S1)北大核心CSCD
【文章页数】:5 页
【部分图文】:
不同银引入方式的P-ZS多级孔分子筛XRD分析
由图2(a)可知,未改性的P-ZS未出现任何氢气还原峰;等体积浸渍超声法得到的(Ag)/P-ZS样品未出现氢气还原峰,说明(Ag)/P-ZS在550℃焙烧后硝酸银分解成银,在P-ZS中银以单质状态存在;[Ag]/P-ZS样品却在182℃附近出现一个氢气还原峰,说明银以银氨离子([Ag(NH3)2]+)状态负载在P-ZS上,高温550℃焙烧未能将其热分解,但银氨键能较弱,只需要低温氢气氛围下就可还原为单质银。原位改性法得到的(Ag,Al) ZSM-5和(Ag,Al) P-ZS出现两个氢气还原峰。据文献[6]报道,Ag2O在300℃左右开始还原为单质银,但当Ag2O与分子筛相互作用时,会导致分解温度升高。(Ag,Al) ZSM-5在410℃附近的低温还原峰即是Ag2O与分子筛表面的弱相互作用使其还原为单质银;此外,还有部分Ag Br,高温还原峰在480℃附近。在(Ag,Al) P-ZS中部分Ag Br还原峰温度升高,原因可能是软模板剂P的加入使得(Ag,Al) P-ZS中形成的Ag Br与分子筛也产生了相互作用。由图2(b)可知,纯的Ag2O在270℃氢气氛围下还原为单质银。而[Ag,Al]ZSM-5和[Ag,Al]P-ZS仅在425℃左右出现一个氢气还原峰,比(Ag,Al) ZSM-5和(Ag,Al) P-ZS的低温还原峰高出15℃,比[Ag]/P-ZS的氢气还原峰温度高出243℃,这说明此时银元素并不是以银氨的状态存在。又因为其XRD图谱中并未出现Ag Br的衍射峰,由此分析认为这是由于银进入了分子筛骨架存在于缺陷位中[7]。
为了考察改性后P-ZS的酸量变化和酸强度分布,对银基改性多级孔分子筛P-ZS进行NH3-TPD测试,并与未改性的P-ZS对比,结果如图3所示。由图3可知,银基改性P-ZS除包含一个低温NH3脱附峰外,皆在350℃开始出现高温氨气脱附峰,这表明其具有弱酸及中强酸两种酸强度中心,而P-ZS只有弱酸中心,中强酸位的产生可能是由于不饱和银原子的掺入产生了强Lewis酸,由图4的Py-FTIR可证明强Lewis酸的产生。
本文编号:3342722
【文章来源】:现代化工. 2020,40(S1)北大核心CSCD
【文章页数】:5 页
【部分图文】:
不同银引入方式的P-ZS多级孔分子筛XRD分析
由图2(a)可知,未改性的P-ZS未出现任何氢气还原峰;等体积浸渍超声法得到的(Ag)/P-ZS样品未出现氢气还原峰,说明(Ag)/P-ZS在550℃焙烧后硝酸银分解成银,在P-ZS中银以单质状态存在;[Ag]/P-ZS样品却在182℃附近出现一个氢气还原峰,说明银以银氨离子([Ag(NH3)2]+)状态负载在P-ZS上,高温550℃焙烧未能将其热分解,但银氨键能较弱,只需要低温氢气氛围下就可还原为单质银。原位改性法得到的(Ag,Al) ZSM-5和(Ag,Al) P-ZS出现两个氢气还原峰。据文献[6]报道,Ag2O在300℃左右开始还原为单质银,但当Ag2O与分子筛相互作用时,会导致分解温度升高。(Ag,Al) ZSM-5在410℃附近的低温还原峰即是Ag2O与分子筛表面的弱相互作用使其还原为单质银;此外,还有部分Ag Br,高温还原峰在480℃附近。在(Ag,Al) P-ZS中部分Ag Br还原峰温度升高,原因可能是软模板剂P的加入使得(Ag,Al) P-ZS中形成的Ag Br与分子筛也产生了相互作用。由图2(b)可知,纯的Ag2O在270℃氢气氛围下还原为单质银。而[Ag,Al]ZSM-5和[Ag,Al]P-ZS仅在425℃左右出现一个氢气还原峰,比(Ag,Al) ZSM-5和(Ag,Al) P-ZS的低温还原峰高出15℃,比[Ag]/P-ZS的氢气还原峰温度高出243℃,这说明此时银元素并不是以银氨的状态存在。又因为其XRD图谱中并未出现Ag Br的衍射峰,由此分析认为这是由于银进入了分子筛骨架存在于缺陷位中[7]。
为了考察改性后P-ZS的酸量变化和酸强度分布,对银基改性多级孔分子筛P-ZS进行NH3-TPD测试,并与未改性的P-ZS对比,结果如图3所示。由图3可知,银基改性P-ZS除包含一个低温NH3脱附峰外,皆在350℃开始出现高温氨气脱附峰,这表明其具有弱酸及中强酸两种酸强度中心,而P-ZS只有弱酸中心,中强酸位的产生可能是由于不饱和银原子的掺入产生了强Lewis酸,由图4的Py-FTIR可证明强Lewis酸的产生。
本文编号:3342722
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