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1. 基于
HfO
_
2
电荷俘获层氧缺陷存储特性研究
2.
HfO
2
/STO结构的输运性质研究
3. Distribution of electron traps in SiO
2
/
HfO
2
nMOSFET
4. Electron trapping properties at
HfO
2
/SiO
2
interface, stud
5.
HFO
-1
2
34yf+HFC-3
2
的pvTx性质和
HFO
-1
2
34ze(E)+CO
2
的气液相平衡性质研究
6. 多层
HfO
2
/Al
2
O 3 薄膜基电荷陷阱存储器件的存储特性研究
7. YON界面钝化层改善
HfO
2
/Ge界面特性的研究
8. Ni/
HfO
2
/Pt阻变单元特性与机理的研究
9. 原子层沉积结合微波退火制备
HfO
2
薄膜及其光电性能研究
10.
HfO
2
薄膜热特性的分子动力学模拟与实验研究
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