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306. 采用双栅MOS结构的抗总剂量关键技术研究

307. 基于有机金属卤化物钙钛矿MOS电容特性研究

308. 高κ栅介质Ge基MOS器件界面特性研究

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310. 硅基MOS器件温度特性分析及实现高温的工艺参数设计

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