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351. 漏电流对CMOS探测器成像品质的影响分析

352. 一种新型低功耗电流模式CMOS带隙基准设计

353. 纳米CMOS器件多阱工艺单粒子效应机理研究

354. CMOS数字电路ESD保护电路效应建模与机理研究

355. CMOS单片集成3D霍尔磁传感器研究与设计

356. 绝热式渐次充电技术在CMOS电路中的应用

357. 基于65nm商用CMOS工艺的BTI效应研究

358. CMOS射频收发机中频率合成器的设计

359. CMOS存储单元电路抗单粒子翻转加固设计研究

360. CMOS毫米波压控振荡器的设计

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