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31. VDMOS性能退化实验及接触热阻的研究

32. 600V高雪崩耐量平面栅VDMOS器件优化设计

33. P沟道VDMOS器件抗辐射加固技术研究

34. 功率VDMOS器件的SEB致SEGR效应研究

35. 一种具有VLD终端结构的600V VDMOS设计

36. 集成温度传感器的3300V SiC VDMOS设计

37. 评价功率VDMOS器件SEB效应的畸变NPN模型

38. 功率VDMOS器件抗SEB/SEGR技术研究进展

39. VDMOS器件的自热效应及高温热载流子效应的研究

40. 埋栅型SIT和VDMOS的单粒子烧毁效应对比研究

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