纺织品整理用超细电气石粉的制备与表征

发布时间：2021-07-28 16:34

　　为了提高电气石粉在纺织品负离子功能整理中的应用效果,采用研磨的方法制备了超细电气石粉。借助Zeta电位及粒度分析仪、扫描电子显微镜（SEM）和负离子浓度测量仪等手段,对处理后的电气石粉的结构和负离子发射性能进行表征。结果表明:研磨是一种有效降低电气石粉粒径的方法。相对于干磨法而言,湿磨效果更好,制备的粉体粒径减小显著且分布更加均匀。随着研磨时间的增加,电气石颗粒的层状结构被破坏,粉体粒径变小,负离子发射量逐渐增强。在球料质量比为1∶3,玛瑙球填充率为80%的条件下,湿磨15 h时,粉体粒径和负离子发生量达到最佳。 

【文章来源】：毛纺科技. 2020,48(12)北大核心

【文章页数】：4 页

【部分图文】：

研磨前后电气石粉的微观形貌

图1给出了不同研磨工艺制备的电气石粉的物相结构。经与电气石的标准PDF卡片对比可知,图1所示的3个样品的主要衍射峰与数据库中电气石的标准衍射峰吻合, 属三方晶系。该电石气样品的主要衍射峰在10°～80°之间。与另外2个被研磨的样品相比, 未研磨的粉体在2θ角为 11.0°～11.5°的位置有明显的[110]衍射峰,研磨后消失,说明电气石粉体多层结构被研磨破坏[13]。从图1还可以看出,研磨后,样品的衍射峰强度较研磨前略有增强。这是由于粉体粒径减少,晶粒衍射增强所致。对比湿磨和干磨的XRD图谱,并未观察到不同。说明2种研磨工艺均未对电气石粉的晶体晶格结构造成破坏。2.1.2 研磨方式对微观形貌的影响

图3是湿磨不同时间制备的电气石粉XRD图谱。从图3可以看出,不同研磨时间所得电气石样品具有相同的衍射特征峰位置,且与电气石的标准PDF卡片中电气石粉的标准衍射峰吻合。说明研磨时间对晶体晶格结构影响不严重。但经15 h研磨的晶体具有相对较强的衍射峰。说明15 h研磨得到的电气石粉体状态较好。2.2.2 研磨时间对微观形貌的影响

【参考文献】：
期刊论文
[1]熔融纺丝制备的PET/锗复合纤维:负离子释放性能、远红外辐射性能及抗菌性能[J]. 陈志,孙聪,朱亚楠,葛明桥.  材料导报. 2018(08)
[2]不同种类电气石材料对甲醛净化性能及机理研究[J]. 王玲,居学成,胡敏,廖英明.  北京大学学报(自然科学版). 2018(03)

博士论文
[1]电气石自极化及应用基础研究[D]. 冀志江.中国建筑材料科学研究院 2003



本文编号：3308251