SWI及DTI在弥漫性轴索损伤中的应用价值

发布时间：2021-08-17 18:33

　　 目的 探讨磁敏感加权成像(SWI)及弥散张量成像(DTI)在弥漫性轴索损伤(DAI)中的应用价值。 资料和方法 1研究对象：DAI组：CT及常规MRI表现轻微的弥漫性轴索损伤患者30例；轻度脑外伤组：其他类型轻度脑外伤的患者15例；健康对照组：健康志愿者15例。所有检查对象均无高血压,糖尿病,脑血管病病史。采用GESigna EXCITE II3.0T磁共振扫描系统,使用8通道头线圈作为发射和接受线圈。应用GRE-T2WI及SWI,进行全脑扫描。在GE ADW4.2工作站用Functool3.1软件进行图像后处理并对GRE-T2WI及SWI发现的出血灶的数量及部位进行记录。采用SPSS11.0统计软件包处理数据,对DAI组SWI与GRE-T2WI序列发现的出血灶数量进行配对t检验,P值0.05为有统计学意义。 2研究对象：DAI组：经临床诊断的弥漫性轴索损伤患者11例；健康对照组：健康志愿者15例。所有检查对象均无高血压,糖尿病,脑血管病病史。采用GE Signa EXCITEⅡ3.0T磁共振扫描系统,使用8通道头线圈作为发射和接受线圈。应用DTI,b值选择1000s／mm2。进行全脑扫描。在GE ADW4.2工作站用Functoo13.1软件进行图像后处理并在DTI的FA图上,分别测量各感兴趣区的FA值。感兴趣区包括双侧额叶,双侧顶叶,丘脑,胼胝体膝部,胼胝体体部,胼胝体压部,双侧内囊膝部,双侧内囊后肢,脑干。采用SPSS11.0统计软件包处理数据,统计学方法采用独立样本t检验,P0.05有统计学意义。 结果 1.1在DAI组中,SWI与GRE-T2WI相比能发现更多的出血灶,两者之间有显著性差异(P0.001)。 1.2 SWI及GRE-T2WI发现的DAI患者脑内出血灶主要分布在额叶,其次是颞叶和胼胝体。 1.3在轻度脑外伤及健康对照组均脑内未发现微出血灶。 2 DAI患者脑内各感兴趣区FA值比健康对照组均明显降低。 结论 1 SWI可以清楚的显示DAI患者脑内微出血灶,较常规MRI及GRE-T2WI更加敏感。 2 DAI患者脑内出血灶主要分布在额叶,其次是颞叶和胼胝体。 3 DTI可以显示DAI患者脑内不同部位FA值显著降低,为其诊断提供有用的信息。
【学位单位】：山东大学
【学位级别】：硕士
【学位年份】：2010
【中图分类】：R445.2;R651.15

【参考文献】

 

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本文编号：2813146