当前位置:主页 > 科技论文 > 电子信息论文 >

复合氮化铝压电薄膜研制及其应用

发布时间:2025-06-04 01:07
   采用中频(MF,40 kHz)双S枪磁控反应溅射制备出了氮化铝(AlN)压电薄膜;采用直流磁控溅射法制作了Mo电极薄膜;采用脉冲DC磁控溅射Au、Cr、Al靶分别制作Au/Cr底电极薄膜及Al/Cr顶电极薄膜。通过对AlN压电薄膜、Mo及Au电极薄膜进行了X线衍射(XRD)分析,结果表明,复合AlN压电薄膜(002)面、Mo薄膜(110)面及Au薄膜(111)面择优取向优良,说明选用Al/Cr/AlN/Au/Cr/YAG复合结构压电薄膜能研制出Ku波段及K波段声体波微波延迟线(BAWDL),其Ku及K波段BAWDL器件插入损耗分别低至43.7 dB、54.6 dB。

【文章页数】:3 页

【部分图文】:

图1 AlN及Mo多晶薄膜XRD衍射曲线

图1 AlN及Mo多晶薄膜XRD衍射曲线

对制备的AlN(压电层)/Mo/AlN(种子层)/NCD/Si复合压电薄膜样品进行了X线衍射(XRD)分析,图1为XRD衍射曲线。图2为摇摆曲线。由图1可看出,AlN压电薄膜(002)面X线衍射峰峰值强度Imax=3673cps(每秒计数)(特征衍射角2θ=36.131....


图2 AlN薄膜XRD摇摆曲线

图2 AlN薄膜XRD摇摆曲线

图1AlN及Mo多晶薄膜XRD衍射曲线2钇铝石榴石(YAG)基Al/Cr/AlN/Au/Cr复合压电薄膜


图3 AlN薄膜XRD衍射曲线

图3 AlN薄膜XRD衍射曲线

采用XRD对研制出的Au/Cr基AlN压电薄膜样品进行了XRD分析,获得了该样品XRD衍射曲线及其摇摆曲线如图3、4所示。由图3可知,AlN压电薄膜(002)面X线衍射峰Imax=736cps(2θ=35.9853°);其FWHM=0.2608°。由图4可知,AlN压电薄膜....


图4 AlN薄膜XRD摇摆曲线

图4 AlN薄膜XRD摇摆曲线

图3AlN薄膜XRD衍射曲线3复合AlN压电薄膜的应用



本文编号:4049087

资料下载
论文发表

本文链接:https://www.wllwen.com/kejilunwen/dianzigongchenglunwen/4049087.html


Copyright(c)文论论文网All Rights Reserved | 网站地图 |

版权申明:资料由用户f900f***提供,本站仅收录摘要或目录,作者需要删除请E-mail邮箱bigeng88@qq.com