当前位置:主页 > 科技论文 > 军工论文 >

热流罩对军用电子产品高低温摸底测试的价值

发布时间:2025-06-06 02:53
   基于军方应用电子产品的极端环境,介绍了采用热流罩测试的摸底价值。基于热流罩完全罩住被测器件,并持久保持在设定极限温度点,器件在极端环境温度下进行通电测试,可更准确地反映产品在极端环境下的真实特性。通过用热流罩和现行的烘箱测试方法对运算放大器进行对比测试来进一步论证其准确性。该测试方法为军用电子产品在高低温测试摸底提供了参考。

【文章页数】:5 页

【部分图文】:

图1 应用热流罩测试原理示意图

图1 应用热流罩测试原理示意图

热流罩温度控制系统原理如图1所示,被测器件置于测试设备上,热流罩调整至合适的角度,完全罩住被测器件。热流罩系统开始工作,压缩空气经热流罩系统加热或降温至合适的温度,高速连续喷射至热流罩腔体内进行热交换,同时温控探头进行温度监控。一定时间后腔体内温度到达设定温度,达到热平衡。通过对....


图2 烘箱后测试的温度控制方法示意图

图2 烘箱后测试的温度控制方法示意图

采用4个器件在烘箱设定高低温状态并保持半小时后取出器件在室温环境下进行测试,器件放入夹具进行测试过程中以30s为试验统计时间,测量其器件壳温变化,如图3、4所示。图3器件从高温烘箱中取出30s内壳温变化(125℃起)


图3 器件从高温烘箱中取出30 s内壳温变化(125℃起)

图3 器件从高温烘箱中取出30 s内壳温变化(125℃起)

图2烘箱后测试的温度控制方法示意图图4器件从低温烘箱中取出30s内壳温变化(-55℃起)


图4 器件从低温烘箱中取出30 s内壳温变化(-55℃起)

图4 器件从低温烘箱中取出30 s内壳温变化(-55℃起)

图3器件从高温烘箱中取出30s内壳温变化(125℃起)3烘箱与热流罩高低温测试试验对比



本文编号:4049678

资料下载
论文发表

本文链接:https://www.wllwen.com/kejilunwen/jingguansheji/4049678.html


Copyright(c)文论论文网All Rights Reserved | 网站地图 |

版权申明:资料由用户e58e3***提供,本站仅收录摘要或目录,作者需要删除请E-mail邮箱bigeng88@qq.com